Gong, X., D. N. Polsin, R. Paul, B. J. Henderson, J. H. Eggert, F. Coppari, R. F. Smith, J. R. Rygg, and G. W. Collins. X-Ray Diffraction of Ramp-Compressed Silicon to 390 Gpa. Physical Review Letters (2023). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.130.076101
